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    掃描俄歇微探針(SAM)

    放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2013-05-30
    核心提示:掃描俄歇微探針(SAM);基本功能: 。1)可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析(包括點(diǎn)分析,線分析和面分析); 。2)可進(jìn)行深度
     掃描俄歇微探針(SAM);
     基本功能:
     。1)可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析(包括點(diǎn)分析,線分析和面分析);
     。2)可進(jìn)行深度分析;
     。3)化學(xué)價(jià)態(tài)研究
     用途:
    納米薄膜材料,微電子材料的表 面和界面研究及摩擦化學(xué)研究。
    編輯:songjiajie2010

     
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    關(guān)鍵詞: 化學(xué)價(jià)態(tài)
     

     
     
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