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    高壓電子顯微鏡(high-voltage electron microscopy,HVEM)

    放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2006-09-20
        同透射電子顯微鏡基本相同,只是電壓特別高。TEM使用的加速電壓是50~100kV,而HVEM使用的電壓是200~1000kV。由于電壓高,就會大大減少造成染色體畸變的可能,因此,可以用較厚的細胞切片研究細胞的結(jié)構(gòu),切片的厚度最大可達1μm,相當(dāng)于普通TEM樣品厚度的10倍。
     

     

     
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